EPFL seeks a Postdoctoral Researcher in Data-driven X-ray Nanoimaging for Semiconductor Metrology at Villigen, Switzerland. You will develop acquisition and reconstruction frameworks using known device geometry and design information to detect defects from the fewest X-ray measurements, with demonstrations at synchrotron facilities.
The role focuses on algorithm development and processing thousands of diffraction patterns, leading independent research directions, and collaborating with
#J-18808-Ljbffr
Postdoc: Data-Driven X-ray Nanoimaging for Chip Metrology in Villigen Arbeitgeber: 1000scholars
Das Max-Planck-Institut für Geoanthropologie in Jena bietet eine herausragende Arbeitsumgebung für PhD-Forscher, die sich mit quantitativen, historischen und archäologischen Stadtforschungen beschäftigen. Mit einem starken Fokus auf interdisziplinäre Zusammenarbeit, flexiblen Arbeitszeiten und umfangreichen Weiterbildungsmöglichkeiten fördert das Institut nicht nur die persönliche und berufliche Entwicklung seiner Mitarbeiter, sondern auch ein inklusives und familienfreundliches Arbeitsklima. Die Möglichkeit, an innovativen Forschungsprojekten zu arbeiten und Teil eines globalen Netzwerks von Wissenschaftlern zu sein, macht diese Position besonders attraktiv für engagierte Forscher.
